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2022年10期
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电子元器件QFN焊点失效分析和改进措施
电子元器件QFN焊点失效分析和改进措施
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摘要
摘要
DOI
54kolq0yjk/6385957
作者
何朗娟
机构地区
450881198906050963
出处
《中国科技信息》
2022年10期
关键词
分类
[][]
出版日期
2022年09月05日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国科技信息
2022年10期
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