摘要
摘要：电子元器件作为电子产品的基础组成单元，其可靠性直接影响着成品的质量和寿命。电子元器件的可靠性更是关乎装备质量与寿命，甚至会影响战局的走势，因此必须高度重视。业界已经形成较为完备的元器件可靠性筛选试验体系，比如小型卫星中的电子器件的构造分析技术研究，小利润小成本商用卫星的零件替补筛选技术条件探讨，航空航天基本器件的质量调控研究，温度交替中包装的器件时效性实用性评估分析等。当代电子科技的跨越性发展，电子元器件的种类与集成度遵循摩尔定律不断推陈出新，封装形式、引脚数量、工作电压等参数复杂多变，为元器件可靠性筛选试验提出了不小的挑战，原有的筛选试验流程已经不能满足当前元器件发展的现状。可靠性试验的快速高效成为当前亟需创新的问题领域。基于此，本篇文章对电子元器件的可靠性进行研究，以供参考。
出版日期
2022年07月28日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
