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X线头影测量长度相关指标与全颅底长的回归分析

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摘要摘要目的探讨颅面自身大小对X线头影测量分析中长度相关指标的影响，并以全颅底长为内部参照，建立回归方程。方法回顾性分析33例患者的头颅定位侧位片。选取18个标志点测量25个长度相关指标，采用全颅底长代表颅面大小，分析这些长度测量指标与全颅底长的回归关系。结果所有测量指标与全颅底长都呈正相关，除U6-PP外，其他指标与全颅底长的回归方程均有统计学意义。结论X线头影测量长度相关指标与全颅底长关系密切，在对长度测量值进行数据分析时，应考虑颅面自身大小对其的影响。

DOI rdx298y9jl/5004025

作者陈昱林怡君孙仪庭王天鸽周志捷刘加强

机构地区上海交通大学医学院附属第九人民医院口腔颅颌面科，上海市口腔医学重点实验室/上海市口腔医学研究所，国家口腔疾病临床研究中心　200011

出处《中华口腔正畸学杂志》 2020年04期

关键词 X线头影测量全颅底长回归分析

分类 [医药卫生][]

出版日期 2021年01月10日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中华口腔正畸学杂志

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