电子剪切散斑中的相位分析方法

由于在电子剪切散斑干涉中被测物理量与光学位相直接相关，通过对干涉条纹的处理能够精确获取物体变形场的位相信息，运用相位分析方法即可导出物体在外力作用下的微小位移及形变。本文综述了电子剪切散斑干涉中条纹的位相测量方法，介绍了目前较为常用的几种相位分析方法的工作原理及实验方法，并讨论了各种方法在工程运用上的所具有的特点。

• 作者: 孙志兵;陈丽;郑柱
• 出处: 《光子技术》 2006年4期
• 关键词: 剪切散斑干涉 条纹分析 位相 应用
• 分类: [电子电信][物理电子学]