某电厂500kV开关断口电容器介损的诊断及分析

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摘要 摘要通过对我厂500kV开关断口并联电容器的高压介损试验结果分析,指出此500kV开关断口电容器所采用的10kV测试电压下介损测得值超标,是由于卡登效应的干扰造成的,通过高电压介损试验可以有效的避免卡登效应的干扰,从而为设备的绝缘状况诊断提供准确的判据。
出处 《电力设备》 2018年24期
出版日期 2018年12月22日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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