一种用于高速ADC INL/DNL测试的新方法

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摘要 随着高速ADC器件的不断出现,传统的低速ADC器件测试评价方法已经越来越不适用。为从工程上实现高速ADC器件的测试评价,提供了一种高速ADC器件关键参数评价INL、DNL的新方法,详细分析了新算法的原理和正确性。目前这些算法已经大量应用到实际高速ADC器件的测试评价中去,解决了高速ADC器件难以评价的问题。
机构地区 不详
出处 《电子与封装》 2015年12期
出版日期 2015年12月22日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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