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MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化

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摘要高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势,MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数,其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系,并定义了MIPS_RAC在0.13μm的通用逻辑工艺平台上的工艺安全范围。

DOI 7j6e3ro740/1430118

作者黄晨;蔡孟峰

机构地区不详

出处《电子与封装》 2014年1期

关键词机顶盒 MIPS_RAC 器件

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2014年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）