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存储器测试算法及诊断覆盖率研究

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摘要随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。

DOI 54k616p0jk/1357409

作者陈金鸿;谢亚莲

机构地区不详

出处《企业技术开发：下旬刊》 2014年4期

关键词存储器测试算法诊断覆盖率

分类 [经济管理][企业管理]

出版日期 2014年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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企业技术开发：下旬刊

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