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《中国电子科学研究院学报》
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大型电子系统与其紧缩系统可靠性的相关性研究
大型电子系统与其紧缩系统可靠性的相关性研究
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摘要
研究了大型电子系统与其紧缩系统可靠性指标之间相关关系。对功能冗余系统可靠性指标进行定性定量分析论证,经数学推导建立了二者之间的关系模型,得出相关方程。通过实例分析和工程计算,得到系统失效率与抽样试验样本量的关系图。应用最小二乘估计法估计紧缩系统与总体系统之间的相关系数,确定了大型电子系统与其紧缩系统之间的相关关系。
DOI
ojnqer71jr/1200261
作者
张友兰;王亮亮;陈卫卫
机构地区
不详
出处
《中国电子科学研究院学报》
2012年6期
关键词
大型系统
紧缩系统
可靠性相关
相关系数
计算方法
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2012年06月16日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国电子科学研究院学报
2012年6期
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